Технологія та конструювання в електронній апаратурі
Politekhperiodika
عن المجلة
Технологія та конструювання в електронній апаратурі مجلة مفتوحة الوصول يصدرها Politekhperiodika في أوكرانيا وتنشر بـENGLISH وUKRAINIAN. مُدرجة في DOAJ بحسب المصادر المقروءة. مدة التحكيم المعلنة لدى DOAJ: 6 أسبوعاً. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.
الوقائع الأساسية
- الناشر
- Politekhperiodika
- ISSN
- 3083-6530 · 3083-6549
- البلد
- أوكرانيا
- اللغات
- ENGLISH، UKRAINIAN
- الوصول
- وصول مفتوح
- عدد المقالات في DOAJ
- 943
- مدة التحكيم المعلنة
- 6 أسبوعاً
- نمط التحكيم المعلن
- double_blind
- الموقع الرسمي
- https://tkea.com.ua/index.php/journal
الإدراج في الفهارس
- DOAJ · 2025-08-26
- الفهرسة
- DOAJ
- رسوم النشر
- —
- مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
- 6 أسبوعاً — مُعلَن من المجلة فقط (غير مقاس)
- النشاط (OpenAlex)
- نشطة — آخر أعمال 2025
- حالة الإدراج في قائمة PublishLens
- تظهر بعد تسجيل الدخول
- تُحتسب للترقية في جامعتك؟
- اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓
إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)
تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.
أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييمملف المجلة الوصفي
بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.
عدد المقالات في DOAJ
943
أحدث مقال منشور
الشهر الماضي
متوسط مدة المراجعة (مُعلَن من المجلة عبر DOAJ)
6أسبوعاً
عدد الأعمال في OpenAlex
21
آخر سنة نشر مسجلة
2025
معامل h
1
معامل i10
0
من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).
السياسة التحريرية9
- تاريخ آخر مراجعة لدى DOAJ
- 2025-08-26
- تاريخ الإضافة إلى DOAJ
- 2025-08-26
- فحص الاستلال المُعلَن
- مُعلَن
- رسوم أخرى غير رسوم النشر
- لا
- هيئة التحرير
- الصفحة الرسمية ↗
- مراجع مودعة علنياً في Crossref
- 88%
- معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
- 84%
- مسجَّلة في فحص التشابه (Crossref Similarity Check)
- ✓
- تُودِع بيانات الرخص في Crossref
- ✓
- سياسة التحكيم
- عرض السياسة
الهوية والاستمرارية2
- تكملة لـ
- 2309-9992, 2225-5818
- نوع المصدر
- journal
التصنيف الموضوعي4
الموضوعات (DOAJ)
رموز تصنيف مكتبة الكونغرس
المواضيع العلمية
- Photovoltaic System Optimization Techniques
- Photovoltaic System Optimization Techniques
- Wireless Signal Modulation Classification
- Non-Destructive Testing Techniques
- Wireless Signal Modulation Classification
- Non-Destructive Testing Techniques
- Advanced Battery Technologies Research
- Heat Transfer and Boiling Studies
عرض كل المجالات (50)
- Electrical and Bioimpedance Tomography
- Distributed Sensor Networks and Detection Algorithms
- Radar Systems and Signal Processing
- Heat Transfer and Optimization
- Chalcogenide Semiconductor Thin Films
- Silicon and Solar Cell Technologies
- Semiconductor materials and interfaces
- Distributed Sensor Networks and Detection Algorithms
- Heat Transfer and Boiling Studies
- Advanced Battery Technologies Research
- Silicon and Solar Cell Technologies
- Chalcogenide Semiconductor Thin Films
- Electrical and Bioimpedance Tomography
- Heat Transfer and Optimization
- Radar Systems and Signal Processing
- Semiconductor materials and interfaces
- Quantum Dots Synthesis And Properties
- Multilevel Inverters and Converters
- Wireless Communication Networks Research
- High voltage insulation and dielectric phenomena
- Microgrid Control and Optimization
- Wireless Communication Networks Research
- GNSS positioning and interference
- Thin-Film Transistor Technologies
- Power Quality and Harmonics
- Advanced MEMS and NEMS Technologies
- Advanced Sensor and Energy Harvesting Materials
- Multilevel Inverters and Converters
- Microgrid Control and Optimization
- Advanced Fiber Optic Sensors
- Advanced DC-DC Converters
- ZnO doping and properties
- Advanced MEMS and NEMS Technologies
- Power Quality and Harmonics
- Thin-Film Transistor Technologies
- GNSS positioning and interference
- Advanced Sensor and Energy Harvesting Materials
- Advanced DC-DC Converters
- Advanced Fiber Optic Sensors
- ZnO doping and properties
- Quantum Dots Synthesis And Properties
- High voltage insulation and dielectric phenomena
كلمات مفتاحية (DOAJ)
- electronics
- electrical engineering
- bioengineering
- microelectronics
- semiconductors
تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.
سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ