حالة التقييم متاحة بعد تسجيل الدخول
عن المجلة
Surface and Interface Analysis مجلة يصدرها Wiley في الولايات المتحدة. مُدرجة في PUBMED بحسب المصادر المقروءة. رسوم النشر المعلنة: 3,350 USD. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.
الوقائع الأساسية
- الناشر
- Wiley
- ISSN
- 0142-2421 · 1096-9918
- البلد
- الولايات المتحدة
- الوصول
- غير مفتوح الوصول / غير مُصرَّح
- رسوم النشر المعلنة
- 3,350 USD
- نمط التحكيم المعلن
- peer_review
الإدراج في الفهارس
- PUBMED · 2009-03-18
- الفهرسة
- PUBMED
- رسوم النشر
- 3,350 USD
- مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
- —
- النشاط (OpenAlex)
- نشطة — آخر أعمال 2026
- حالة الإدراج في قائمة PublishLens
- تظهر بعد تسجيل الدخول
- تُحتسب للترقية في جامعتك؟
- اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓
إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)
تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.
أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييمملف المجلة الوصفي
بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.
عدد الأعمال في OpenAlex
10118
آخر سنة نشر مسجلة
2026
تُعلنها OpenAlex في 1 من 3 مصادر (أعلام CC0، لا فهرسة مُتحقَّقة)DOAJSciELOOpenAlex Core
معامل h
139
معامل i10
4064
من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).
السياسة التحريرية5
- الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-10-05
- CLOCKSSPortico
- السجل النرويجي (HK-dir)— 2026
- المستوى 1 — قناة علمية معتمدة
- مراجع مودعة علنياً في Crossref
- 77%
- معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
- 75%
- مسجَّلة في فحص التشابه (Crossref Similarity Check)
- ✓
- تُودِع بيانات الرخص في Crossref
- ✓
الهوية والاستمرارية2
- عناوين بديلة
- SIA. surf. interface anal.SIA
- نوع المصدر
- journal
التصنيف الموضوعي(لا بيانات)
لا بيانات لدى المنصة لهذه المجموعة
لا بيانات لدى المنصة في: التصنيف الموضوعي.
المواضيع العلمية
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Ion-surface interactions and analysis
- Ion-surface interactions and analysis
- Semiconductor materials and devices
- Semiconductor materials and devices
- X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
- X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
عرض كل المجالات (50)
- Metal and Thin Film Mechanics
- Metal and Thin Film Mechanics
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Corrosion Behavior and Inhibition
- Corrosion Behavior and Inhibition
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Surface and Thin Film Phenomena
- Surface and Thin Film Phenomena
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Catalytic Processes in Materials Science
- Catalytic Processes in Materials Science
- Analytical chemistry methods development
- Analytical chemistry methods development
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Advancements in Photolithography Techniques
- Advancements in Photolithography Techniques
- Surface Modification and Superhydrophobicity
- Surface Modification and Superhydrophobicity
- Surface Roughness and Optical Measurements
- Surface Roughness and Optical Measurements
- Adhesion, Friction, and Surface Interactions
- Adhesion, Friction, and Surface Interactions
- Advanced Materials Characterization Techniques
- Advanced Materials Characterization Techniques
- ZnO doping and properties
- ZnO doping and properties
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Mass Spectrometry Techniques and Applications
- Mass Spectrometry Techniques and Applications
- Semiconductor materials and interfaces
- Semiconductor materials and interfaces
- Theoretical and Computational Physics
- Theoretical and Computational Physics
- Anodic Oxide Films and Nanostructures
- Anodic Oxide Films and Nanostructures
- Hydrogen embrittlement and corrosion behaviors in metals
- Hydrogen embrittlement and corrosion behaviors in metals
تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.
جارٍ تحميل التأكيدات المجتمعية…
سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ