حالة التقييم متاحة بعد تسجيل الدخول
عن المجلة
Thin Solid Films مجلة يصدرها Elsevier BV في هولندا. مُدرجة في PUBMED بحسب المصادر المقروءة. رسوم النشر المعلنة: 2,890 USD. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.
الوقائع الأساسية
- الناشر
- Elsevier BV
- ISSN
- 1879-2731 · 0040-6090
- البلد
- هولندا
- الوصول
- غير مفتوح الوصول / غير مُصرَّح
- رسوم النشر المعلنة
- 2,890 USD
- نمط التحكيم المعلن
- peer_review
- الموقع الرسمي
- http://www.journals.elsevier.com/thin-solid-films/
الإدراج في الفهارس
- PUBMED · 1998-08-31
- الفهرسة
- PUBMED
- رسوم النشر
- 2,890 USD
- مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
- —
- النشاط (OpenAlex)
- نشطة — آخر أعمال 2026
- حالة الإدراج في قائمة PublishLens
- تظهر بعد تسجيل الدخول
- تُحتسب للترقية في جامعتك؟
- اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓
إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)
تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.
أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييمملف المجلة الوصفي
بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.
عدد الأعمال في OpenAlex
47350
آخر سنة نشر مسجلة
2026
تُعلنها OpenAlex في 1 من 3 مصادر (أعلام CC0، لا فهرسة مُتحقَّقة)DOAJSciELOOpenAlex Core
معامل h
253
معامل i10
26361
من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).
السياسة التحريرية4
- الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-10-05
- CLOCKSSPortico
- السجل النرويجي (HK-dir)— 2026
- المستوى 1 — قناة علمية معتمدة
- مراجع مودعة علنياً في Crossref
- 96%
- معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
- 88%
- تُودِع بيانات الرخص في Crossref
- ✓
الهوية والاستمرارية2
- نوع المصدر
- journal
- معرّف NLM (PubMed)
- 101462246
التصنيف الموضوعي(لا بيانات)
لا بيانات لدى المنصة لهذه المجموعة
لا بيانات لدى المنصة في: التصنيف الموضوعي.
المواضيع العلمية
- Semiconductor materials and devices
- Semiconductor materials and devices
- Metal and Thin Film Mechanics
- Metal and Thin Film Mechanics
- ZnO doping and properties
- ZnO doping and properties
- Thin-Film Transistor Technologies
- Thin-Film Transistor Technologies
عرض كل المجالات (50)
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Chalcogenide Semiconductor Thin Films
- Chalcogenide Semiconductor Thin Films
- Semiconductor materials and interfaces
- Semiconductor materials and interfaces
- Copper Interconnects and Reliability
- Copper Interconnects and Reliability
- Quantum Dots Synthesis And Properties
- Quantum Dots Synthesis And Properties
- Silicon Nanostructures and Photoluminescence
- Silicon Nanostructures and Photoluminescence
- Gas Sensing Nanomaterials and Sensors
- Gas Sensing Nanomaterials and Sensors
- Copper-based nanomaterials and applications
- Copper-based nanomaterials and applications
- Silicon and Solar Cell Technologies
- Silicon and Solar Cell Technologies
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Transition Metal Oxide Nanomaterials
- Transition Metal Oxide Nanomaterials
- Ion-surface interactions and analysis
- Ion-surface interactions and analysis
- Conducting polymers and applications
- Conducting polymers and applications
- Organic Electronics and Photovoltaics
- Organic Electronics and Photovoltaics
- Surface and Thin Film Phenomena
- Surface and Thin Film Phenomena
- Semiconductor Quantum Structures and Devices
- Semiconductor Quantum Structures and Devices
- Ga2O3 and related materials
- Ga2O3 and related materials
- GaN-based semiconductor devices and materials
- GaN-based semiconductor devices and materials
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Ferroelectric and Piezoelectric Materials
- Ferroelectric and Piezoelectric Materials
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Force Microscopy Techniques and Applications
تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.
جارٍ تحميل التأكيدات المجتمعية…
سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ