حالة التقييم متاحة بعد تسجيل الدخول
عن المجلة
Surface Science مجلة يصدرها Elsevier BV في هولندا. مُدرجة في PUBMED بحسب المصادر المقروءة. رسوم النشر المعلنة: 3,120 USD. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.
الوقائع الأساسية
- الناشر
- Elsevier BV
- ISSN
- 1879-2758 · 0039-6028
- البلد
- هولندا
- الوصول
- غير مفتوح الوصول / غير مُصرَّح
- رسوم النشر المعلنة
- 3,120 USD
- نمط التحكيم المعلن
- peer_review
- الموقع الرسمي
- https://www.journals.elsevier.com/surface-science
الإدراج في الفهارس
- PUBMED · 2008-04-01
- الفهرسة
- PUBMED
- رسوم النشر
- 3,120 USD
- مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
- —
- النشاط (OpenAlex)
- نشطة — آخر أعمال 2026
- حالة الإدراج في قائمة PublishLens
- تظهر بعد تسجيل الدخول
- تُحتسب للترقية في جامعتك؟
- اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓
إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)
تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.
أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييمملف المجلة الوصفي
بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.
عدد الأعمال في OpenAlex
39570
آخر سنة نشر مسجلة
2026
تُعلنها OpenAlex في 1 من 3 مصادر (أعلام CC0، لا فهرسة مُتحقَّقة)DOAJSciELOOpenAlex Core
معامل h
268
معامل i10
24282
من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).
السياسة التحريرية4
- الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-09-21
- CLOCKSSPortico
- السجل النرويجي (HK-dir)— 2026
- المستوى 1 — قناة علمية معتمدة
- مراجع مودعة علنياً في Crossref
- 91%
- معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
- 88%
- تُودِع بيانات الرخص في Crossref
- ✓
الهوية والاستمرارية1
- نوع المصدر
- journal
التصنيف الموضوعي(لا بيانات)
لا بيانات لدى المنصة لهذه المجموعة
لا بيانات لدى المنصة في: التصنيف الموضوعي.
المواضيع العلمية
- Advanced Chemical Physics Studies
- Advanced Chemical Physics Studies
- Surface and Thin Film Phenomena
- Surface and Thin Film Phenomena
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Catalytic Processes in Materials Science
- Catalytic Processes in Materials Science
عرض كل المجالات (50)
- nanoparticles nucleation surface interactions
- nanoparticles nucleation surface interactions
- Semiconductor materials and devices
- Semiconductor materials and devices
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Ion-surface interactions and analysis
- Ion-surface interactions and analysis
- Advanced Materials Characterization Techniques
- Advanced Materials Characterization Techniques
- Semiconductor Quantum Structures and Devices
- Semiconductor Quantum Structures and Devices
- Quantum and electron transport phenomena
- Quantum and electron transport phenomena
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Semiconductor materials and interfaces
- Semiconductor materials and interfaces
- Spectroscopy and Quantum Chemical Studies
- Spectroscopy and Quantum Chemical Studies
- Catalysis and Oxidation Reactions
- Catalysis and Oxidation Reactions
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Quantum, superfluid, helium dynamics
- Quantum, superfluid, helium dynamics
- Magnetic properties of thin films
- Magnetic properties of thin films
- Theoretical and Computational Physics
- Theoretical and Computational Physics
- Graphene research and applications
- Graphene research and applications
- Physics of Superconductivity and Magnetism
- Physics of Superconductivity and Magnetism
- Surface Chemistry and Catalysis
- Surface Chemistry and Catalysis
- Chemical and Physical Properties of Materials
- Chemical and Physical Properties of Materials
- Metal and Thin Film Mechanics
- ZnO doping and properties
- ZnO doping and properties
- Metal and Thin Film Mechanics
تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.
جارٍ تحميل التأكيدات المجتمعية…
سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ