حالة التقييم متاحة بعد تسجيل الدخول
عن المجلة
Ultramicroscopy مجلة يصدرها Elsevier BV في هولندا. مُدرجة في MEDLINE وPUBMED بحسب المصادر المقروءة. رسوم النشر المعلنة: 3,500 USD. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.
الوقائع الأساسية
- الناشر
- Elsevier BV
- ISSN
- 1879-2723 · 0304-3991
- البلد
- هولندا
- الوصول
- غير مفتوح الوصول / غير مُصرَّح
- رسوم النشر المعلنة
- 3,500 USD
- نمط التحكيم المعلن
- peer_review
الإدراج في الفهارس
- MEDLINE · 1975-01-01
- PUBMED · 1989-04-01
- الفهرسة
- MEDLINE · PUBMED
- رسوم النشر
- 3,500 USD
- مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
- —
- مدة التحكيم الفعلية (مقاسة)
- 136 يوماً من الاستلام إلى القبول — محسوب من PubMed (n=99)
- النشاط (OpenAlex)
- نشطة — آخر أعمال 2026
- حالة الإدراج في قائمة PublishLens
- تظهر بعد تسجيل الدخول
- تُحتسب للترقية في جامعتك؟
- اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓
إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)
تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.
أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييمملف المجلة الوصفي
بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.
عدد الأعمال في OpenAlex
9791
آخر سنة نشر مسجلة
2026
تُعلنها OpenAlex في 1 من 3 مصادر (أعلام CC0، لا فهرسة مُتحقَّقة)DOAJSciELOOpenAlex Core
معامل h
179
معامل i10
4735
من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).
السياسة التحريرية4
- الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-10-05
- CLOCKSSPortico
- السجل النرويجي (HK-dir)— 2026
- المستوى 1 — قناة علمية معتمدة
- مراجع مودعة علنياً في Crossref
- 95%
- معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
- 94%
- تُودِع بيانات الرخص في Crossref
- ✓
الهوية والاستمرارية2
- نوع المصدر
- journal
- معرّف NLM (PubMed)
- 7513702
التصنيف الموضوعي(لا بيانات)
لا بيانات لدى المنصة لهذه المجموعة
لا بيانات لدى المنصة في: التصنيف الموضوعي.
المواضيع العلمية
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
- Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
عرض كل المجالات (50)
- Advanced X-ray Imaging Techniques
- Advanced X-ray Imaging Techniques
- Advanced Materials Characterization Techniques
- Advanced Materials Characterization Techniques
- Surface and Thin Film Phenomena
- Surface and Thin Film Phenomena
- Near-Field Optical Microscopy
- Near-Field Optical Microscopy
- X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
- X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
- Ion-surface interactions and analysis
- Ion-surface interactions and analysis
- Mechanical and Optical Resonators
- Mechanical and Optical Resonators
- Advancements in Photolithography Techniques
- Advancements in Photolithography Techniques
- Human auditory perception and evaluation
- Human auditory perception and evaluation
- Educational Robotics and Engineering
- Educational Robotics and Engineering
- Diverse Scientific and Economic Studies
- Diverse Scientific and Economic Studies
- Crystallography and Radiation Phenomena
- Crystallography and Radiation Phenomena
- Semiconductor materials and devices
- Semiconductor materials and devices
- Microstructure and mechanical properties
- Microstructure and mechanical properties
- X-ray Diffraction in Crystallography
- X-ray Diffraction in Crystallography
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Magnetic properties of thin films
- Magnetic properties of thin films
- Hydrogen embrittlement and corrosion behaviors in metals
- Hydrogen embrittlement and corrosion behaviors in metals
- Metal and Thin Film Mechanics
- Metal and Thin Film Mechanics
تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.
جارٍ تحميل التأكيدات المجتمعية…
سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ