Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena
American Institute of Physics
عن المجلة
Journal of Vacuum Science & Technology B Microelectronics and Nanometer Structures Processing Measurement and Phenomena مجلة يصدرها American Institute of Physics في الولايات المتحدة. مُدرجة في PUBMED بحسب المصادر المقروءة. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.
الوقائع الأساسية
- الناشر
- American Institute of Physics
- ISSN
- 1071-1023 · 1520-8567
- البلد
- الولايات المتحدة
- الوصول
- غير مفتوح الوصول / غير مُصرَّح
الإدراج في الفهارس
- PUBMED · 2008-11-01
- الفهرسة
- PUBMED
- رسوم النشر
- —
- مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
- —
- النشاط (OpenAlex)
- خاملة — لا أعمال مسجَّلة منذ 2015
- حالة الإدراج في قائمة PublishLens
- تظهر بعد تسجيل الدخول
- تُحتسب للترقية في جامعتك؟
- اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓
إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)
تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.
أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييمملف المجلة الوصفي
بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.
عدد الأعمال في OpenAlex
11784
آخر سنة نشر مسجلة
2015
معامل h
141
معامل i10
6122
من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).
السياسة التحريرية4
- الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-10-05
- CLOCKSSPortico
- السجل النرويجي (HK-dir)— 2009
- المستوى 1 — قناة علمية معتمدة
- مراجع مودعة علنياً في Crossref
- 0%
- معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
- 0%
الهوية والاستمرارية3
- عناوين بديلة
- JVST BJournal of vacuum science and technology.Journal of vacuum science & technology.Microelectronics and nanometer structures$I Issues for 2003- have issue PDF table of contents title: $a Journal of vacuum science & technology.
- نوع المصدر
- journal
- معرّف NLM (PubMed)
- 101491911
التصنيف الموضوعي(لا بيانات)
لا بيانات لدى المنصة لهذه المجموعة
لا بيانات لدى المنصة في: التصنيف الموضوعي.
المواضيع العلمية
- Semiconductor materials and devices
- Semiconductor materials and devices
- Advancements in Photolithography Techniques
- Advancements in Photolithography Techniques
- Semiconductor Quantum Structures and Devices
- Semiconductor Quantum Structures and Devices
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
عرض كل المجالات (50)
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Metal and Thin Film Mechanics
- Metal and Thin Film Mechanics
- Ion-surface interactions and analysis
- Ion-surface interactions and analysis
- Surface and Thin Film Phenomena
- Surface and Thin Film Phenomena
- Semiconductor materials and interfaces
- Semiconductor materials and interfaces
- Nanofabrication and Lithography Techniques
- Nanofabrication and Lithography Techniques
- GaN-based semiconductor devices and materials
- GaN-based semiconductor devices and materials
- Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
- Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
- Plasma Diagnostics and Applications
- Plasma Diagnostics and Applications
- Copper Interconnects and Reliability
- Copper Interconnects and Reliability
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Advanced Surface Polishing Techniques
- Advanced Surface Polishing Techniques
- Nanowire Synthesis and Applications
- Nanowire Synthesis and Applications
- Advanced Semiconductor Detectors and Materials
- Advanced Semiconductor Detectors and Materials
- Optical Coatings and Gratings
- Optical Coatings and Gratings
- Silicon Nanostructures and Photoluminescence
- Silicon Nanostructures and Photoluminescence
- Carbon Nanotubes in Composites
- Carbon Nanotubes in Composites
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Molecular Junctions and Nanostructures
- Photonic and Optical Devices
- Photonic and Optical Devices
- Silicon and Solar Cell Technologies
- Silicon and Solar Cell Technologies
تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.
سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ