عن المجلة
Microscopy مجلة يصدرها Oxford University Press في المملكة المتحدة. مُدرجة في MEDLINE وPUBMED بحسب المصادر المقروءة. رسوم النشر المعلنة: 3,200 USD. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.
الوقائع الأساسية
- الناشر
- Oxford University Press
- ISSN
- 2050-5698 · 2050-5701
- البلد
- المملكة المتحدة
- الوصول
- غير مفتوح الوصول / غير مُصرَّح
- رسوم النشر المعلنة
- 3,200 USD
- الموقع الرسمي
- https://academic.oup.com/jmicro
الإدراج في الفهارس
- MEDLINE · 2013-01-01
- PUBMED · 2017-02-08
- الفهرسة
- MEDLINE · PUBMED
- رسوم النشر
- 3,200 USD
- مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
- —
- مدة التحكيم الفعلية (مقاسة)
- 98 يوماً من الاستلام إلى القبول — محسوب من PubMed (n=96)
- النشاط (OpenAlex)
- نشطة — آخر أعمال 2026
- حالة الإدراج في قائمة PublishLens
- تظهر بعد تسجيل الدخول
- تُحتسب للترقية في جامعتك؟
- اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓
إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)
تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.
أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييمملف المجلة الوصفي
بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.
عدد الأعمال في OpenAlex
1714
آخر سنة نشر مسجلة
2026
معامل h
48
معامل i10
350
من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).
السياسة التحريرية5
- الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-10-05
- CLOCKSSPortico
- السجل النرويجي (HK-dir)— 2026
- المستوى 1 — قناة علمية معتمدة
- مراجع مودعة علنياً في Crossref
- 88%
- معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
- 60%
- مسجَّلة في فحص التشابه (Crossref Similarity Check)
- ✓
- تُودِع بيانات الرخص في Crossref
- ✓
الهوية والاستمرارية2
- نوع المصدر
- journal
- معرّف NLM (PubMed)
- 101595834
التصنيف الموضوعي(لا بيانات)
لا بيانات لدى المنصة لهذه المجموعة
لا بيانات لدى المنصة في: التصنيف الموضوعي.
المواضيع العلمية
- Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
- Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Advanced Fluorescence Microscopy Techniques
- Advanced Fluorescence Microscopy Techniques
عرض كل المجالات (50)
- Advanced X-ray Imaging Techniques
- Advanced X-ray Imaging Techniques
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Diverse Scientific and Economic Studies
- Diverse Scientific and Economic Studies
- Earthquake and Disaster Impact Studies
- Earthquake and Disaster Impact Studies
- Nanofabrication and Lithography Techniques
- Nanofabrication and Lithography Techniques
- Advanced Materials Characterization Techniques
- Ion-surface interactions and analysis
- Advanced Materials Characterization Techniques
- Ion-surface interactions and analysis
- Cell Image Analysis Techniques
- Cell Image Analysis Techniques
- Advancements in Photolithography Techniques
- Advancements in Photolithography Techniques
- Microstructure and mechanical properties
- Microstructure and mechanical properties
- Photosynthetic Processes and Mechanisms
- X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
- Photosynthetic Processes and Mechanisms
- X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
- Near-Field Optical Microscopy
- Near-Field Optical Microscopy
- Surface and Thin Film Phenomena
- Semiconductor materials and devices
- Semiconductor materials and devices
- Surface and Thin Film Phenomena
- Advancements in Battery Materials
- Advancements in Battery Materials
- Magnetic properties of thin films
- Magnetic properties of thin films
- Aluminum Alloy Microstructure Properties
- Aluminum Alloy Microstructure Properties
- Hydrogen embrittlement and corrosion behaviors in metals
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Hydrogen embrittlement and corrosion behaviors in metals
- Microstructure and Mechanical Properties of Steels
- Microstructure and Mechanical Properties of Steels
تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.
سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ