حالة التقييم متاحة بعد تسجيل الدخول
عن المجلة
Microscopy and Microanalysis مجلة يصدرها Oxford University Press في الولايات المتحدة. مُدرجة في MEDLINE وPUBMED بحسب المصادر المقروءة. رسوم النشر المعلنة: 3,255 USD. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.
الوقائع الأساسية
- الناشر
- Oxford University Press
- ISSN
- 1431-9276 · 1435-8115
- البلد
- الولايات المتحدة
- الوصول
- غير مفتوح الوصول / غير مُصرَّح
- رسوم النشر المعلنة
- 3,255 USD
- الموقع الرسمي
- https://academic.oup.com/mam
الإدراج في الفهارس
- MEDLINE · 2002-01-01
- PUBMED · 2010-09-02
- الفهرسة
- MEDLINE · PUBMED
- رسوم النشر
- 3,255 USD
- مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
- —
- مدة التحكيم الفعلية (مقاسة)
- 144 يوماً من الاستلام إلى القبول — محسوب من PubMed (n=96)
- النشاط (OpenAlex)
- نشطة — آخر أعمال 2026
- حالة الإدراج في قائمة PublishLens
- تظهر بعد تسجيل الدخول
- تُحتسب للترقية في جامعتك؟
- اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓
إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)
تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.
أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييمملف المجلة الوصفي
بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.
عدد الأعمال في OpenAlex
33084
آخر سنة نشر مسجلة
2026
تُعلنها OpenAlex في 1 من 3 مصادر (أعلام CC0، لا فهرسة مُتحقَّقة)DOAJSciELOOpenAlex Core
معامل h
94
معامل i10
2143
من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).
السياسة التحريرية5
- الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-10-05
- CLOCKSSPortico
- السجل النرويجي (HK-dir)— 2026
- المستوى 1 — قناة علمية معتمدة
- مراجع مودعة علنياً في Crossref
- 94%
- معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
- 10%
- مسجَّلة في فحص التشابه (Crossref Similarity Check)
- ✓
- تُودِع بيانات الرخص في Crossref
- ✓
الهوية والاستمرارية2
- نوع المصدر
- journal
- معرّف NLM (PubMed)
- 9712707
التصنيف الموضوعي(لا بيانات)
لا بيانات لدى المنصة لهذه المجموعة
لا بيانات لدى المنصة في: التصنيف الموضوعي.
المواضيع العلمية
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
- Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
- Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
- Advanced Materials Characterization Techniques
- Advanced Materials Characterization Techniques
- Ion-surface interactions and analysis
- Ion-surface interactions and analysis
عرض كل المجالات (50)
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Force Microscopy Techniques and Applications
- Advanced X-ray Imaging Techniques
- Advanced X-ray Imaging Techniques
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- Electronic and Structural Properties of Oxides
- X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
- X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
- Machine Learning in Materials Science
- Machine Learning in Materials Science
- Semiconductor materials and devices
- Semiconductor materials and devices
- Surface and Thin Film Phenomena
- Surface and Thin Film Phenomena
- Microstructure and mechanical properties
- Microstructure and mechanical properties
- Metal and Thin Film Mechanics
- Metal and Thin Film Mechanics
- Nuclear Physics and Applications
- Nuclear Physics and Applications
- Catalytic Processes in Materials Science
- Catalytic Processes in Materials Science
- Hydrogen embrittlement and corrosion behaviors in metals
- Hydrogen embrittlement and corrosion behaviors in metals
- Advancements in Photolithography Techniques
- Advancements in Photolithography Techniques
- Advanced Fluorescence Microscopy Techniques
- Advanced Fluorescence Microscopy Techniques
- nanoparticles nucleation surface interactions
- nanoparticles nucleation surface interactions
- Advancements in Battery Materials
- Advancements in Battery Materials
- Cell Image Analysis Techniques
- Cell Image Analysis Techniques
- Magnetic properties of thin films
- Magnetic properties of thin films
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Diamond and Carbon-based Materials Research
- Anodic Oxide Films and Nanostructures
- Anodic Oxide Films and Nanostructures
تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.
جارٍ تحميل التأكيدات المجتمعية…
سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ