عن المجلة
Metrology and Measurement Systems مجلة مفتوحة الوصول يصدرها De Gruyter Open في بولندا وتنشر بـENGLISH. مُدرجة في DOAJ بحسب المصادر المقروءة. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.
الوقائع الأساسية
- الناشر
- De Gruyter Open
- ISSN
- 2080-9050 · 0860-8229
- البلد
- بولندا
- اللغات
- ENGLISH
- الوصول
- وصول مفتوح
- نمط التحكيم المعلن
- peer_review
- الموقع الرسمي
- http://www.metrology.pg.gda.pl
الإدراج في الفهارس
- DOAJ · 2015-03-16
- الفهرسة
- —
- رسوم النشر
- —
- مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
- —
- النشاط (OpenAlex)
- نشطة — آخر أعمال 2026
- حالة الإدراج في قائمة PublishLens
- تظهر بعد تسجيل الدخول
- تُحتسب للترقية في جامعتك؟
- اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓
إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)
تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.
أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييمملف المجلة الوصفي
بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.
عدد الأعمال في OpenAlex
1227
آخر سنة نشر مسجلة
2025
معامل h
39
معامل i10
336
من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).
السياسة التحريرية4
- الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-10-05
- Portico
- مراجع مودعة علنياً في Crossref
- 0%
- معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
- 22%
- مسجَّلة في فحص التشابه (Crossref Similarity Check)
- ✓
- تُودِع بيانات الرخص في Crossref
- ✓
الهوية والاستمرارية2
- عناوين بديلة
- Metrologiâ i IzmeritelЬnye SistemyM&MSMetrology and Measuring SystemsM&M
- نوع المصدر
- journal
التصنيف الموضوعي(لا بيانات)
لا بيانات لدى المنصة لهذه المجموعة
لا بيانات لدى المنصة في: التصنيف الموضوعي.
المواضيع العلمية
- Sensor Technology and Measurement Systems
- Sensor Technology and Measurement Systems
- Scientific Measurement and Uncertainty Evaluation
- Scientific Measurement and Uncertainty Evaluation
- Advanced Measurement and Metrology Techniques
- Advanced Measurement and Metrology Techniques
- Advanced Electrical Measurement Techniques
- Advanced Electrical Measurement Techniques
عرض كل المجالات (50)
- Advanced Sensor Technologies Research
- Advanced Sensor Technologies Research
- Surface Roughness and Optical Measurements
- Surface Roughness and Optical Measurements
- Optical measurement and interference techniques
- Optical measurement and interference techniques
- Flow Measurement and Analysis
- Flow Measurement and Analysis
- Analog and Mixed-Signal Circuit Design
- Analog and Mixed-Signal Circuit Design
- Advanced Chemical Sensor Technologies
- Advanced Chemical Sensor Technologies
- Power Quality and Harmonics
- Power Quality and Harmonics
- Advanced machining processes and optimization
- Advanced machining processes and optimization
- Advancements in PLL and VCO Technologies
- Machine Fault Diagnosis Techniques
- Advancements in PLL and VCO Technologies
- Machine Fault Diagnosis Techniques
- Advanced Measurement and Detection Methods
- Advanced Measurement and Detection Methods
- Advanced Fiber Optic Sensors
- Advanced Fiber Optic Sensors
- Calibration and Measurement Techniques
- Gas Sensing Nanomaterials and Sensors
- Calibration and Measurement Techniques
- Analytical Chemistry and Sensors
- Analytical Chemistry and Sensors
- Gas Sensing Nanomaterials and Sensors
- Advanced MEMS and NEMS Technologies
- Advanced MEMS and NEMS Technologies
- Structural Health Monitoring Techniques
- Structural Health Monitoring Techniques
- Fault Detection and Control Systems
- VLSI and Analog Circuit Testing
- Non-Destructive Testing Techniques
- Fault Detection and Control Systems
- VLSI and Analog Circuit Testing
- Non-Destructive Testing Techniques
- Inertial Sensor and Navigation
- Inertial Sensor and Navigation
كلمات مفتاحية (DOAJ)
- metrology
- measurements
- sensors
- transducers
- instruments
- measurement methods
تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.
سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ