Journal of Crystal Growth

Elsevier BV

موقع المجلة الرسميطريقة التحكيم: تحكيم علمي
حالة التقييم متاحة بعد تسجيل الدخول

عن المجلة

Journal of Crystal Growth مجلة يصدرها Elsevier BV في هولندا. مُدرجة في PUBMED بحسب المصادر المقروءة. رسوم النشر المعلنة: 2,990 USD. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.

الوقائع الأساسية

الناشر
Elsevier BV
ISSN
1873-5002 · 0022-0248
البلد
هولندا
الوصول
غير مفتوح الوصول / غير مُصرَّح
رسوم النشر المعلنة
2,990 USD
نمط التحكيم المعلن
peer_review

الإدراج في الفهارس

  • PUBMED · 1996-05-01
الفهرسة
PUBMED
رسوم النشر
2,990 USD
مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
—
النشاط (OpenAlex)
نشطة — آخر أعمال 2026
حالة الإدراج في قائمة PublishLens
تظهر بعد تسجيل الدخول
تُحتسب للترقية في جامعتك؟
اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓

إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)

تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.

أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييم

ملف المجلة الوصفي

بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.

عدد الأعمال في OpenAlex

41634

آخر سنة نشر مسجلة

2026

تُعلنها OpenAlex في 1 من 3 مصادر (أعلام CC0، لا فهرسة مُتحقَّقة)DOAJSciELOOpenAlex Core

معامل h

206

معامل i10

22558

من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).

السياسة التحريرية4
الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-10-05
CLOCKSSPortico
السجل النرويجي (HK-dir)— 2026
المستوى 1 — قناة علمية معتمدة
مراجع مودعة علنياً في Crossref
91%
معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
52%
تُودِع بيانات الرخص في Crossref
✓
الهوية والاستمرارية2
نوع المصدر
journal
معرّف NLM (PubMed)
100971389
التصنيف الموضوعي(لا بيانات)

لا بيانات لدى المنصة لهذه المجموعة

لا بيانات لدى المنصة في: التصنيف الموضوعي.

المواضيع العلمية

  • Semiconductor Quantum Structures and Devices
  • Semiconductor Quantum Structures and Devices
  • GaN-based semiconductor devices and materials
  • GaN-based semiconductor devices and materials
  • Semiconductor materials and devices
  • Semiconductor materials and devices
  • Advanced Semiconductor Detectors and Materials
  • Advanced Semiconductor Detectors and Materials
عرض كل المجالات (50)
  • Solidification and crystal growth phenomena
  • Solidification and crystal growth phenomena
  • Chalcogenide Semiconductor Thin Films
  • Chalcogenide Semiconductor Thin Films
  • Crystallization and Solubility Studies
  • Crystallization and Solubility Studies
  • ZnO doping and properties
  • ZnO doping and properties
  • Quantum Dots Synthesis And Properties
  • Quantum Dots Synthesis And Properties
  • nanoparticles nucleation surface interactions
  • nanoparticles nucleation surface interactions
  • Ga2O3 and related materials
  • Ga2O3 and related materials
  • Semiconductor materials and interfaces
  • Semiconductor materials and interfaces
  • Silicon and Solar Cell Technologies
  • Silicon and Solar Cell Technologies
  • Semiconductor Lasers and Optical Devices
  • Semiconductor Lasers and Optical Devices
  • Metal and Thin Film Mechanics
  • Metal and Thin Film Mechanics
  • Nanowire Synthesis and Applications
  • Nanowire Synthesis and Applications
  • Thin-Film Transistor Technologies
  • Thin-Film Transistor Technologies
  • Electronic and Structural Properties of Oxides
  • Electronic and Structural Properties of Oxides
  • Luminescence Properties of Advanced Materials
  • Luminescence Properties of Advanced Materials
  • Calcium Carbonate Crystallization and Inhibition
  • Calcium Carbonate Crystallization and Inhibition
  • Photorefractive and Nonlinear Optics
  • Photorefractive and Nonlinear Optics
  • Acoustic Wave Resonator Technologies
  • Acoustic Wave Resonator Technologies
  • Metallurgical Processes and Thermodynamics
  • Metallurgical Processes and Thermodynamics
  • Diverse Scientific and Economic Studies
  • Diverse Scientific and Economic Studies
  • Photonic and Optical Devices
  • Photonic and Optical Devices

تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.

جارٍ تحميل التأكيدات المجتمعية…
كيف نُقيّم؟ناشر هذه المجلة؟ تظلّم على تقدير مشتق أو طلب تصحيح واقعة

سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ

كل ما يُعرض هنا يُنتَج آلياً من مصادر مسمّاة (DOAJ، OpenAlex، Crossref، PubMed، السجل النرويجي) بتاريخ التقاطه، دون تحرير بشري. الوقائع تظهر كما سُجِّلت في مصدرها؛ والدرجات المشتقة (PCI، PTD، درجة PublishLens) تتبع منهجية منشورة. ليست حكماً على المجلة ولا اعتماداً رسمياً ولا استشارة.

أي بند خاطئ يُصحَّح آلياً بإعادة قراءة مصدره (خلال 24 ساعة للمصادر اليومية و7 أيام للأسبوعية) مع سجل تغييرات مؤرَّخ، وكل بند يرتبط بسجله في المصدر. الاعتراض على تقدير مشتق من PublishLens يمر عبر آلية التظلم (15 يوم عمل). آلية التظلم · دليل المؤشرات

بيانات السجل النرويجي: Kanalregisteret (HK-dir، النرويج) — رخصة CC BY 4.0 / NLOD — مُعالَجة: استخراج المستوى بالسنة · قائمة أعضاء OASPA — رخصة CC BY

آخر قراءة آلية للمصدر: