e-Journal of Surface Science and Nanotechnology

The Japan Society of Vacuum and Surface Science

موقع المجلة الرسميطريقة التحكيم: تحكيم علمي
حالة التقييم متاحة بعد تسجيل الدخول

عن المجلة

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology مجلة مفتوحة الوصول يصدرها The Japan Society of Vacuum and Surface Science في اليابان وتنشر بـENGLISH. مُدرجة في DOAJ بحسب المصادر المقروءة. رسوم النشر المعلنة: 93 USD. مدة التحكيم المعلنة لدى DOAJ: 12 أسبوعاً. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.

الوقائع الأساسية

الناشر
The Japan Society of Vacuum and Surface Science
ISSN
1348-0391
البلد
اليابان
اللغات
ENGLISH
الوصول
وصول مفتوح
رسوم النشر المعلنة
93 USD
عدد المقالات في DOAJ
0
مدة التحكيم المعلنة
12 أسبوعاً
نمط التحكيم المعلن
peer_review

الإدراج في الفهارس

  • DOAJ · 2019-01-23
الفهرسة
DOAJ
رسوم النشر
93 USD
مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
12 أسبوعاً — مُعلَن من المجلة فقط (غير مقاس)
النشاط (OpenAlex)
نشطة — آخر أعمال 2026
حالة الإدراج في قائمة PublishLens
تظهر بعد تسجيل الدخول
تُحتسب للترقية في جامعتك؟
اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓

إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)

تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.

أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييم

ملف المجلة الوصفي

بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.

عدد المقالات في DOAJ

0

متوسط مدة المراجعة (مُعلَن من المجلة عبر DOAJ)

12أسبوعاً

عدد الأعمال في OpenAlex

1596

آخر سنة نشر مسجلة

2026

تُعلنها OpenAlex في 2 من 3 مصادر (أعلام CC0، لا فهرسة مُتحقَّقة)DOAJSciELOOpenAlex Core

معامل h

30

معامل i10

203

من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).

السياسة التحريرية11
تاريخ آخر مراجعة لدى DOAJ
2021-01-21
تاريخ الإضافة إلى DOAJ
2019-01-23
فحص الاستلال المُعلَن
مُعلَن
رسوم أخرى غير رسوم النشر
نعم
الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-09-21
Portico
هيئة التحرير
الصفحة الرسمية ↗
السجل النرويجي (HK-dir)— 2026
المستوى 1 — قناة علمية معتمدة
مراجع مودعة علنياً في Crossref
98%
معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
0%
مسجَّلة في فحص التشابه (Crossref Similarity Check)
✓
سياسة التحكيم
عرض السياسة
الهوية والاستمرارية1
نوع المصدر
journal
التصنيف الموضوعي2

الموضوعات (DOAJ)

Technology

رموز تصنيف مكتبة الكونغرس

T

المواضيع العلمية

  • Surface and Thin Film Phenomena
  • Surface and Thin Film Phenomena
  • Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
  • Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
  • Molecular Junctions and Nanostructures
  • Molecular Junctions and Nanostructures
  • Graphene research and applications
  • Graphene research and applications
عرض كل المجالات (50)
  • Force Microscopy Techniques and Applications
  • Force Microscopy Techniques and Applications
  • Semiconductor materials and devices
  • Semiconductor materials and devices
  • Ion-surface interactions and analysis
  • Ion-surface interactions and analysis
  • Advanced Chemical Physics Studies
  • Advanced Chemical Physics Studies
  • Catalytic Processes in Materials Science
  • Catalytic Processes in Materials Science
  • Carbon Nanotubes in Composites
  • Carbon Nanotubes in Composites
  • ZnO doping and properties
  • ZnO doping and properties
  • Advanced Materials Characterization Techniques
  • Advanced Materials Characterization Techniques
  • Semiconductor materials and interfaces
  • Semiconductor materials and interfaces
  • Diamond and Carbon-based Materials Research
  • Diamond and Carbon-based Materials Research
  • Magnetic properties of thin films
  • Magnetic properties of thin films
  • Gas Sensing Nanomaterials and Sensors
  • Gas Sensing Nanomaterials and Sensors
  • X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
  • X-ray Spectroscopy and Fluorescence Analysis
  • Electronic and Structural Properties of Oxides
  • Electronic and Structural Properties of Oxides
  • Metal and Thin Film Mechanics
  • Metal and Thin Film Mechanics
  • Semiconductor Quantum Structures and Devices
  • Semiconductor Quantum Structures and Devices
  • Copper-based nanomaterials and applications
  • Copper-based nanomaterials and applications
  • Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
  • Advanced Electron Microscopy Techniques and Applications
  • Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
  • Integrated Circuits and Semiconductor Failure Analysis
  • GaN-based semiconductor devices and materials
  • Gold and Silver Nanoparticles Synthesis and Applications
  • GaN-based semiconductor devices and materials
  • Gold and Silver Nanoparticles Synthesis and Applications

كلمات مفتاحية (DOAJ)

  • surface and interface science
  • nanotechnology
  • vacuum science
  • material science
  • electronic engineering

تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.

جارٍ تحميل التأكيدات المجتمعية…
كيف نُقيّم؟ناشر هذه المجلة؟ تظلّم على تقدير مشتق أو طلب تصحيح واقعة

سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ

كل ما يُعرض هنا يُنتَج آلياً من مصادر مسمّاة (DOAJ، OpenAlex، Crossref، PubMed، السجل النرويجي) بتاريخ التقاطه، دون تحرير بشري. الوقائع تظهر كما سُجِّلت في مصدرها؛ والدرجات المشتقة (PCI، PTD، درجة PublishLens) تتبع منهجية منشورة. ليست حكماً على المجلة ولا اعتماداً رسمياً ولا استشارة.

أي بند خاطئ يُصحَّح آلياً بإعادة قراءة مصدره (خلال 24 ساعة للمصادر اليومية و7 أيام للأسبوعية) مع سجل تغييرات مؤرَّخ، وكل بند يرتبط بسجله في المصدر. الاعتراض على تقدير مشتق من PublishLens يمر عبر آلية التظلم (15 يوم عمل). آلية التظلم · دليل المؤشرات

بيانات السجل النرويجي: Kanalregisteret (HK-dir، النرويج) — رخصة CC BY 4.0 / NLOD — مُعالَجة: استخراج المستوى بالسنة · قائمة أعضاء OASPA — رخصة CC BY

آخر قراءة آلية للمصدر: