Power Electronic Devices and Components

Elsevier

موقع المجلة الرسميطريقة التحكيم: تحكيم علمي
حالة التقييم متاحة بعد تسجيل الدخول

عن المجلة

Power Electronic Devices and Components مجلة مفتوحة الوصول يصدرها Elsevier في المملكة المتحدة وتنشر بـENGLISH. مُدرجة في DOAJ بحسب المصادر المقروءة. رسوم النشر المعلنة: 1,015 USD. مدة التحكيم المعلنة لدى DOAJ: 19 أسبوعاً. الوقائع منقولة كما وردت في مصادرها بتاريخ التقاطها؛ مؤشرات PublishLens متاحة بعد تسجيل الدخول.

الوقائع الأساسية

الناشر
Elsevier
ISSN
2772-3704
البلد
المملكة المتحدة
اللغات
ENGLISH
الوصول
وصول مفتوح
رسوم النشر المعلنة
1,015 USD
عدد المقالات في DOAJ
131
مدة التحكيم المعلنة
19 أسبوعاً
نمط التحكيم المعلن
peer_review

الإدراج في الفهارس

  • DOAJ · 2022-10-18
الفهرسة
DOAJ
رسوم النشر
1,015 USD
مدة التحكيم المُعلَنة (DOAJ)
19 أسبوعاً — مُعلَن من المجلة فقط (غير مقاس)
النشاط (OpenAlex)
نشطة — آخر أعمال 2026
حالة الإدراج في قائمة PublishLens
تظهر بعد تسجيل الدخول
تُحتسب للترقية في جامعتك؟
اختر جامعتك ورتبتك أدناه ↓

إشارات المنهجية (وقائع مؤرَّخة من مصادرها)

تفاصيل التقييم وفق المنهجية المنشورة تُعرض للمسجّلين مجاناً.

أنشئ حساباً مجانياً لعرض التقييم

ملف المجلة الوصفي

بيانات وصفية من مصادر علنية (DOAJ، OpenAlex، PubMed) بتاريخ الالتقاط المبيَّن — لا تتضمن أي تقييم أو حكم.

عدد المقالات في DOAJ

131

أحدث مقال منشور

قبل 7 أشهر

متوسط مدة المراجعة (مُعلَن من المجلة عبر DOAJ)

19أسبوعاً

عدد الأعمال في OpenAlex

143

آخر سنة نشر مسجلة

2026

تُعلنها OpenAlex في 2 من 3 مصادر (أعلام CC0، لا فهرسة مُتحقَّقة)DOAJSciELOOpenAlex Core

معامل h

12

معامل i10

16

من بيانات OpenAlex المفتوحة (CC0).

السياسة التحريرية11
تاريخ آخر مراجعة لدى DOAJ
2026-04-27
تاريخ الإضافة إلى DOAJ
2022-10-18
فحص الاستلال المُعلَن
مُعلَن
رسوم أخرى غير رسوم النشر
لا
جهات الحفظ الرقمي المُعلَنة
CLOCKSSPortico
الحفظ الرقمي المرصود (سجل Keepers)— لقطة 2026-09-21
CLOCKSSPortico
هيئة التحرير
الصفحة الرسمية ↗
مراجع مودعة علنياً في Crossref
97%
معرّفات ORCID في الإيداعات الحديثة
85%
تُودِع بيانات الرخص في Crossref
✓
سياسة إعفاء رسوم النشر
عرض السياسة
سياسة التحكيم
عرض السياسة
الهوية والاستمرارية1
نوع المصدر
journal
التصنيف الموضوعي2

الموضوعات (DOAJ)

Technology: Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering: Electric apparatus and materials. Electric circuits. Electric networks

رموز تصنيف مكتبة الكونغرس

TK452-454.4

المواضيع العلمية

  • Silicon Carbide Semiconductor Technologies
  • Silicon Carbide Semiconductor Technologies
  • GaN-based semiconductor devices and materials
  • GaN-based semiconductor devices and materials
  • Semiconductor materials and devices
  • Electromagnetic Compatibility and Noise Suppression
  • Semiconductor materials and devices
  • Electromagnetic Compatibility and Noise Suppression
عرض كل المجالات (50)
  • Multilevel Inverters and Converters
  • Multilevel Inverters and Converters
  • Advanced DC-DC Converters
  • Advanced DC-DC Converters
  • Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
  • Advancements in Semiconductor Devices and Circuit Design
  • Electrostatic Discharge in Electronics
  • Electrostatic Discharge in Electronics
  • Electronic Packaging and Soldering Technologies
  • Electronic Packaging and Soldering Technologies
  • Advanced Battery Technologies Research
  • HVDC Systems and Fault Protection
  • Advanced Battery Technologies Research
  • HVDC Systems and Fault Protection
  • 3D IC and TSV technologies
  • 3D IC and TSV technologies
  • Semiconductor Quantum Structures and Devices
  • ZnO doping and properties
  • Semiconductor Quantum Structures and Devices
  • ZnO doping and properties
  • Induction Heating and Inverter Technology
  • Ga2O3 and related materials
  • Ga2O3 and related materials
  • Induction Heating and Inverter Technology
  • Advanced Sensor and Energy Harvesting Materials
  • Magnetic Field Sensors Techniques
  • Microgrid Control and Optimization
  • Magnetic Field Sensors Techniques
  • Dielectric materials and actuators
  • Advanced Sensor and Energy Harvesting Materials
  • Microgrid Control and Optimization
  • Dielectric materials and actuators
  • Aluminum Alloys Composites Properties
  • Radio Frequency Integrated Circuit Design
  • Thin-Film Transistor Technologies
  • Aluminum Alloys Composites Properties
  • Ferroelectric and Piezoelectric Materials
  • Ferroelectric and Piezoelectric Materials
  • High voltage insulation and dielectric phenomena
  • High voltage insulation and dielectric phenomena
  • Radio Frequency Integrated Circuit Design
  • Thin-Film Transistor Technologies

كلمات مفتاحية (DOAJ)

  • power electronic devices
  • power electronic components
  • passive devices
  • emerging power devices

تأكيدات مجتمعية — ما رآه مستخدمون في MJL أو Scopus Sources؛ ليست تحققاً من المنصة ولا تدخل في أي درجة.

جارٍ تحميل التأكيدات المجتمعية…
كيف نُقيّم؟ناشر هذه المجلة؟ تظلّم على تقدير مشتق أو طلب تصحيح واقعة

سجل المجلة في مصادر أخرى:Web of Science MJLDOAJ

كل ما يُعرض هنا يُنتَج آلياً من مصادر مسمّاة (DOAJ، OpenAlex، Crossref، PubMed، السجل النرويجي) بتاريخ التقاطه، دون تحرير بشري. الوقائع تظهر كما سُجِّلت في مصدرها؛ والدرجات المشتقة (PCI، PTD، درجة PublishLens) تتبع منهجية منشورة. ليست حكماً على المجلة ولا اعتماداً رسمياً ولا استشارة.

أي بند خاطئ يُصحَّح آلياً بإعادة قراءة مصدره (خلال 24 ساعة للمصادر اليومية و7 أيام للأسبوعية) مع سجل تغييرات مؤرَّخ، وكل بند يرتبط بسجله في المصدر. الاعتراض على تقدير مشتق من PublishLens يمر عبر آلية التظلم (15 يوم عمل). آلية التظلم · دليل المؤشرات

بيانات السجل النرويجي: Kanalregisteret (HK-dir، النرويج) — رخصة CC BY 4.0 / NLOD — مُعالَجة: استخراج المستوى بالسنة · قائمة أعضاء OASPA — رخصة CC BY

آخر قراءة آلية للمصدر: